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Enhancing Diffusion Posterior Sampling for Inverse Problems by Integrating Crafted Measurements

Created by
  • Haebom

作者

Shijie Zhou, Huaisheng Zhu, Rohan Sharma, Jiayi Chen, Ruiyi Zhang, Kaiyi Ji, Changyou Chen

概要

本論文は拡散モデルに基づく逆問題解決のための新しい後方サンプリング方法であるDPS-CMを提案する。従来の後方サンプリングベースの方法は、測定値(低画質画像)を後方サンプリングに直接使用して目標データ(高画質画像)の分布を推論します。 DPS-CMは、ノイズを含む測定値の代わりに逆脱ノイズプロセスによって生成された「加工された測定値」(Crafted Measurement)を使用して後方推定値を形成することによって、拡散事前分布との不一致を軽減し、復元性能を向上させます。さまざまな逆問題(ガウスの脱色、超解像、画像の塗りつぶし、非線形の脱色、ポアソンノイズ除去など)の実験結果は、従来の方法よりも優れた性能を示すことを確認しました。

Takeaways、Limitations

Takeaways:
拡散モデルに基づく逆問題解決の性能向上のための新しいアプローチの提示
加工された測定値を活用して後方サンプリングの精度を向上
様々な逆問題に対する優れた性能を実証
公開されたコードによる再現性の確保
Limitations:
加工された測定値生成プロセスの複雑さと計算コストの増加の可能性
特定の種類のノイズや逆の問題については、パフォーマンスが低下する可能性があります
加工された測定値の生成に使用される逆脱雑音プロセスの最適化の必要性
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