본 논문은 사후적 이상치 탐지(post-hoc OOD detection)에서 모델 용량과 이상치 탐지 성능 간의 관계, 특히 이중 하강 현상(Double Descent)의 존재 여부를 조사합니다. 기존 지도 학습 분야에서 주목받는 이중 하강 현상이 사후적 이상치 탐지에도 나타나는지 실험적으로 증명하고, 이 현상이 나타나는 이유에 대한 이론적 통찰을 제공합니다. 과매개화(overparameterization)가 일반화 성능 향상에 도움이 되는 것처럼 이상치 탐지 성능도 향상시키는지 연구하며, 과매개화 영역이 항상 최고의 결과를 보장하지 않음을 보이고, 이상치 탐지에 최적의 영역을 식별하는 방법을 제안합니다.
