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Detección automatizada de defectos para componentes electrónicos producidos en masa basada en modelos de detección de objetos YOLO

Created by
  • Haebom

Autor

Wei-Lung Mao, Chun-Chi Wang, Po-Heng Chou, Yen-Ting Liu

Sistema de detección automática de defectos en componentes DIP

Describir

Este artículo propone un sistema automatizado de detección de defectos para componentes DIP (Dual In-Line Package), ampliamente utilizado en entornos industriales. Para abordar la naturaleza laboriosa y lenta de la detección manual convencional de defectos, utilizamos una cámara digital y un modelo basado en aprendizaje profundo. Detectamos dos tipos principales de defectos en componentes DIP (defectos superficiales y defectos en las patas de los pasadores) y utilizamos ConSinGAN para abordar el limitado conjunto de datos necesario para el entrenamiento y las pruebas. Comparamos y analizamos varios modelos YOLO (v3, v4, v7 y v9) con aumento de ConSinGAN. YOLOv7, combinado con ConSinGAN, muestra el mejor rendimiento, con una precisión del 95,50 % y un tiempo de detección de 285 ms. Además, desarrollamos un sistema SCADA y describimos su arquitectura de sensores asociada.

Takeaways, Limitations

Takeaways:
Proponemos un sistema automatizado de detección de defectos en componentes DIP para mejorar la eficiencia del control de calidad.
Para abordar el problema de la escasez de datos, proponemos un método para generar datos sintéticos utilizando ConSinGAN.
Compare y analice varios modelos YOLO para seleccionar el modelo óptimo.
Desarrollo de un sistema SCADA para aumentar su aplicabilidad a sitios industriales reales.
Limitations:
Restricción de que se aplica únicamente a determinados componentes DIP
Se necesita más investigación sobre el rendimiento de detección para otros tipos de defectos.
Diferencias entre los datos generados por ConSinGAN y los datos de defectos reales
Falta de información sobre la implementación específica y la evaluación del desempeño de los sistemas SCADA.
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