본 논문은 기계 학습 시스템의 신뢰성과 안전성을 보장하기 위해 필수적인 Out-of-Distribution (OOD) 감지에 대해 연구하며, 특히 사후 감지 방식에 초점을 맞춘다. 모델 용량과 OOD 감지 성능 간의 관계를 탐구하여, Double Descent 현상이 사후 OOD 감지에서도 나타나는지 확인한다. 또한, 과다 매개변수화가 OOD 감지에도 긍정적인 영향을 미칠 수 있는지 조사한다. 실험을 통해 Double Descent 효과를 입증하고, 이론적 근거를 제시하며, 최적의 OOD 감지 성능을 위한 모델 매개변수 범위를 식별하는 방법을 제안한다.