본 논문은 양자 분류기의 적대적 강건성을 연구합니다. 특히 NISQ 시대의 양자 컴퓨팅에서 회로 절단(circuit cutting) 기법을 사용하여 양자 회로를 여러 양자 처리 장치에 분산 실행하는 방식이 적대적 공격에 대한 취약성을 증가시키는지 조사합니다. 와이어 절단(wire cutting)에서 상태 준비 채널을 공격하는 것과 양자 분류기의 중간 레이어에 적대적 게이트를 구현하는 것 사이의 연관성을 확립하고, 이를 이론적 및 실험적 관점에서 연구합니다. 이는 양자 기계 학습의 고유한 장점과 클래식 모델과 비교한 성능에 대한 통찰력을 제공합니다.