본 논문은 양자 회로의 충실도 예측을 위한 새로운 시스템인 Q-fid를 제안한다. Q-fid는 장단기 기억(LSTM) 기반의 충실도 예측 시스템과 양자 회로의 충실도를 정량화하기 위한 새로운 지표를 포함한다. 기존 방법들이 변동하는 오류율과 표준화된 충실도 지표의 부재로 인해 다양한 회로 레이아웃의 노이즈 성능을 추정하고 비교하는 데 어려움을 겪는다는 점을 해결하기 위해, Q-fid는 양자 회로를 토큰화하여 시간 시계열 예측 문제로 충실도 예측을 구성함으로써 게이트 시퀀스의 인과적 의존성과 전체 충실도에 대한 영향을 포착한다. 또한 하드웨어 특성의 변화에 동적으로 적응하여 다양한 조건에서 정확한 충실도 예측을 보장한다. 실험 결과, Q-fid는 평균 RMSE 0.0515를 달성하여 Qiskit transpile 도구 mapomatic보다 최대 24.7배 더 정확한 예측 성능을 보였다.