Overcoming Data Scarcity in Scanning Tunnelling Microscopy Image Segmentation
Created by
Haebom
저자
Nikola L. Kolev, Max Trouton, Filippo Federici Canova, Geoff Thornton, David Z. Gao, Neil J. Curson, Taylor J. Z. Stock
개요
본 논문은 주사터널링현미경(STM) 이미지의 자동 분할을 위한 새로운 접근법을 제시합니다. 기존의 지도학습 방식과 달리, 소수 샘플 학습(few-shot learning)과 비지도 학습을 결합하여 대량의 수동 주석 데이터가 필요 없도록 하였습니다. Si(001), Ge(001), TiO$_2$(110) 표면과 이들 표면에 흡착된 AsH$_3$ 분자를 포함한 세 가지 서로 다른 표면의 원자 특징 인식에 본 접근법의 효과를 보여줍니다. 제한된 추가 주석 데이터만으로도 새로운 표면에 적용 가능한 일반화 능력이 뛰어난 모델임을 입증합니다. 이는 효율적이고 재료에 독립적인 STM 이미지 자동 분할을 위한 중요한 진전입니다.