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Fault tolerance estimation in digital circuits with visualised generative networks

μž‘μ„±μž
  • Haebom
μΉ΄ν…Œκ³ λ¦¬
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μ €μž

Sascha Biel, Carl Alexander Gaede, Amiel Glaser, Jan Wolter, Alexej Schelle

πŸ’‘ κ°œμš”

λ³Έ 논문은 생성적 μ λŒ€ 신경망(GAN)을 ν™œμš©ν•˜μ—¬ 디지털 회둜의 잠재적인 κ³ μž₯ λͺ¨λ“œμ— λŒ€ν•œ 내성을 μ •λŸ‰μ μœΌλ‘œ ν‰κ°€ν•˜λŠ” μƒˆλ‘œμš΄ 수치적 방법을 μ œμ•ˆν•©λ‹ˆλ‹€. GAN의 νŒλ³„μž 뢀뢄을 톡해 이상적인 디지털 μ‹ ν˜Έμ™€ μ‹€μ œ μ‹€ν—˜ μ‹ ν˜Έ κ°„μ˜ 편차λ₯Ό κ³„μ‚°ν•˜μ—¬, 논리 μ†Œμžμ˜ λˆ„λ½ λ˜λŠ” κ΅ν™˜κ³Ό 같은 λ‹€μ–‘ν•œ 였λ₯˜ λͺ¨λ“œλ₯Ό ν¬ν•¨ν•œ κ³ μž₯ 내성을 μΆ”μ •ν•©λ‹ˆλ‹€. 이λ₯Ό 톡해 λ³΅μ†Œ λ³€μˆ˜ ν‘œν˜„μ„ λΆ„μ„ν•˜μ—¬ 각 논리 μš”μ†Œμ™€ κ΄€λ ¨λœ κ³ μž₯ λͺ¨λ“œμ˜ 영ν–₯을 κ΅¬λΆ„ν•¨μœΌλ‘œμ¨ μ „μž μ„€κ³„μ˜ 강건성을 평가할 수 μžˆμŠ΅λ‹ˆλ‹€.

πŸ”‘ μ‹œμ‚¬μ  및 ν•œκ³„

β€’
디지털 회둜의 κ³ μž₯ 내성을 생성적 λͺ¨λΈμ„ 톡해 μ •λŸ‰μ μœΌλ‘œ 평가할 수 μžˆλŠ” μƒˆλ‘œμš΄ 방법둠을 μ œμ‹œν•©λ‹ˆλ‹€.
β€’
논리 μ†Œμž μˆ˜μ€€μ—μ„œμ˜ κ³ μž₯ λͺ¨λ“œ 영ν–₯을 κ΅¬λΆ„ν•˜μ—¬ 섀계 강건성 뢄석에 κΈ°μ—¬ν•©λ‹ˆλ‹€.
β€’
λ³΅μ†Œ λ³€μˆ˜ 뢄석을 톡해 GAN λͺ¨λΈμ˜ λ™μž‘μ„ μ΄ν•΄ν•˜κ³  해석 κ°€λŠ₯성을 λ†’μ˜€μŠ΅λ‹ˆλ‹€.
β€’
μ œμ•ˆλœ λ°©λ²•λ‘ μ˜ μ‹€μ œ λ³΅μž‘ν•œ 디지털 νšŒλ‘œμ— λŒ€ν•œ ν™•μž₯μ„± 및 계산 νš¨μœ¨μ„±μ— λŒ€ν•œ 좔가적인 검증이 ν•„μš”ν•©λ‹ˆλ‹€.
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