본 논문은 확산 모델에서의 암기 현상을 로그 확률 밀도의 예리함을 통해 분석하는 기하학적 프레임워크를 제시합니다. 기존에 제안된 점수 차이 기반 암기 측정 지표의 효과를 수학적으로 정당화하고, 잠재 확산 모델에서 이미지 생성 초기 단계의 예리함을 포착하는 새로운 암기 측정 지표를 제안하여 잠재적인 암기 현상에 대한 조기 통찰력을 제공합니다. 이 지표를 활용하여 예리함을 고려한 정규화 항을 사용하여 생성 과정의 초기 노이즈를 최적화하는 완화 전략을 개발합니다.
